Krótko o katedrze...

Katedra Metrologi i Optoelektroniki (MiO) została utworzona w 2006 roku z połączenia Katedry Optoelektroniki i Katedry Metrologii i Systemów Elektronicznych. Katedra Optoelektroniki została powołana w 1992 roku z Zakładu Optoelektroniki  ITE PG kierowanego przez prof. dr hab. dr h.c. inż. Henryka Wierzbę, a następnie od 1993 roku przez dr hab. inż. Bogdana Kosmowskiego prof. PG. Katedrę Metrologii i Systemów Elektronicznych powołano w 2003 roku integrując Katedrę Aparatury Pomiarowej (prof.dr hab.inż. Ludwik Spiralski) i Katedrę Miernictwa Elektronicznego (prof. dr inż. Romuald Zielonko).

W latach 2006 - 2009 Katedrą kierował dr hab. inż. Bogdan Kosmowski. W roku 2009 kierownikiem Katedry została prof. dr hab. inż. Alicja Konczakowska a w roku 2013 zastąpił ją prof dr hab. inż. Janusz Smulko, który pozostaje na tym stanowisku do chwili obecnej.

Katedra MiO prowadzi dwie specjalności dydaktyczne:

oraz specjalność uzupełniającą Systemy Wbudowane

Program dydaktyczny realizowany w zespołach Katedry MiO obejmuje szeroką bazę wiedzy podstawowej, jak i specjalistycznej:
-W Zespole Optoelektroniki są wykładane między innymi:

- W Zespole Metrologii i Systemów Elektronicznych oferta dydaktyczna obejmuje przedmioty: Badania naukowe zespołów Katedry MiO koncentrują się na rozwoju nowoczesnych metod pozyskiwania, przetwarzania, przekazywania i wizualizacji informacji.
W Zespole Optoelektroniki, badania obejmują zastosowanie nowoczesnych optoelektronicznych metod pomiarowych w monitorowaniu stanu obiektów technicznych i środowiska. Tematami badań są:
  • Zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii.
  • Modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych.
  • Badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT).
  • Badania i optymalizacja konstrukcji barwnych displejów ciekłokrysta-licznych.
  • Inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC), oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD).
  • Spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych.
  • Systemy optoelektroniczne wspomagające niewidomych.
  • Komputerowa analiza i projektowanie układów elektronicznych.
Tematem badań Zespołu Metrologii i Systemów Elektronicznych są:
  • Metrologia i diagnostyka wspomagana komputerowo.
  • Pomiary i spektroskopia impedancyjna, telemetria i telediagnostyka internetowa.
  • Projektowanie systemów, mikro- i makrosystemów elektronicznych, systemów wbudowanych
  • Testowanie i diagnostyka elektroniczna, pomiary właściwości szumowych elementów i zakłóceń w układach elektronicznych.
  • Niezawodność elementów, podzespołów i układów elektronicznych.
  • Kompatybilność elektromagnetyczna.
  • Czujniki gazów.
  • Spektroskopia Ramana.
  • Przetwarzanie danych (np. w aplikacjach Internet of Things).
Badania realizowano w ramach kilkunastu grantów badawczych finansowanych przez MNiSzW, w ramach projektów międzynarodowych (POLECER, TEMPUS) bezpośredniej współpracy międzynarodowej oraz w kooperacji i na potrzeby środowiska gospodarczego Regionu Pomorze. Zespoły Katedry OiSE prowadzą szeroką współpracę naukową i dydaktyczną z wieloma wyróżniającymi się ośrodkami badawczymi. Najważniejsze z nich to: Uniwersytet Oulu, VTT Oulu; Finlandia, Uniwersytet Karsluhe, Uniwersytet Stuttgart, Uniwersytet Rostok, Uniwersytet Greifswald, TU Berlin, TU Paderborn; Niemcy, Uniwersytet Uppsala; Szwecja, Uniwersytet Teras A&M; USA, ENSERG Grenoble; Francja, Uniwersytet Trento; Włochy; Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, USA.

Zespół Katedry MiO podnosi swoje kwalifikacje uzyskując tytuły i stopnie naukowe. Za wybitne osiągnięcia badawcze Zespoły Katedry zostały wielokrotnie uhonorowane nagrodami Rektora PG. Zespół Komputerowych Systemów Pomiarowych i Diagnostycznych uzyskał Nagrodę Specjalną na 6 Międzynarodowej Wystawie Wynalazków INNOWACJE 2005 za opracowany w ramach projektu EUREKA (Nr E!3174-HIADAC) Analizator do spektroskopii wysokoimpendancyjnej powłok antykorozyjnych oraz 2 patenty międzynarodowe (USA, Szwecja).
Dr inż. Marcin Gnyba uzyskał nagrodę IMEKO za najlepszy referat na Kongresie oraz nagrodę firmy LOTOS za wyróżniającą się rozprawę doktorską.
Nowoczesna technologia wytwarzania i badania elementów z SiC jest tematem zadania grantu zamawianego MNiSzW, w którym bierze udział zespół kierowany przez prof. Alicję Konczakowską.
Prace Zespołu Metrologii i Systemó Elektronicznych są wysoko oceniane w środowisku naukowym, czego wyrazem jest powierzenie prof. dr hab. inż. Januszowi Smulko redakcji angielskojęzycznego kwartalnika PAN „Metrology and Measurement System".
Zespoły Katedry MiO organizowały lub współuczestniczyły w organizacji konferencji krajowych i międzynarodowych (ECOM-03, Metrologia Wspomagana Komputerowo, NOISE 2000, Seminarium Miernictwa Sygnałów Przypadkowych, COE)
Obecnie Zespoły badawcze Katedry MiO pracują nad oryginalnymi programami badawczymi obejmującymi:
Zastosowanie niskokoherencyjnej tomografii optycznej do badania właściwości ośrodków warstwowych, diagnostykę właściwości szumowych i niezawodności struktur elementów elektronicznych z SiC, oraz spektroskopię impedancyjną obiektów technicznych o ekstremalnych wartościach parametrów charakterystycznych.
Pracownicy Katedry MiO są aktywnymi członkami międzynarodowych i krajowych stowarzyszeń; SPIE, PTTS, IEEE, PTETiS, SHP, OSA, PAN -Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej, IMEKO TC-10, POLSPAR.
Katedra jest członkiem międzynarodowego konsorcjum optoelektronicznego Photonics21.