Specjalnością naukową i dydaktyczną Zespołu jest komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka oraz systemy elektroniczne, a w szczególności:
projektowanie systemów, mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych, testowanie i diagnostyka elektroniczna, pomiary właściwości szumowych i zakłóceń, niezawodność, kompatybilność elektromagnetyczna, pomiary i spektroskopia impedancyjna, telemetria i telediagnostyka internetowa.

Katedra redaguje Metrology and Measurement Systems
- kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR.