Zaawansowane metody pomiarowe i diagnostyczne

Nazwa przedmiotu: Zaawansowane metody pomiarowe i diagnostyczne
Typ przedmiotu: specjalnościowy (podstawowa)
Katedra/sekcja: Katedra Metrologii i Optoelektroniki
wykład
Liczba godzin: 1
Prowadzący:  dr hab. inż. Wojciech Toczek, prof. uczelni
Prowadzony na:
Stopień: 2 (mgr) - Komputerowe systemy elektroniczne - sem. 2
laboratorium
Liczba godzin: 1
Prowadzący:  dr hab. inż. Wojciech Toczek, prof. uczelni
Prowadzony na:
Stopień: 2 (mgr) - Komputerowe systemy elektroniczne - sem. 2

Materiały dla studentów